，高温老化实验箱可加快露出元器件潜在缺点，快速评价其高温安稳耐用性，为质量管控供给数据支撑。
选取同批次、同标准电子元器件（不少于5个），除掉引脚氧化、封装破损的不合格品；用校准合格的仪器测验初始电气参数（电阻、电容、正向压降等）并记载存案；查看高温老化实验箱密封功用、温控精度及过温报警功用，保证线路、数据收集体系无短路、接触不良，按元器件类型预设参数：温度85℃-150℃、升温速率≤1℃/min、老化时刻24-1000h，需模仿作业状况的施加额定负载80%-1.1倍电应力。
将合格样品均匀固定在实验箱样品架上，样品距离≥5mm，防止遮挡散热且不触碰箱体内壁及传感器；按引脚界说精确衔接测验线路与负载设备，区别正负极性并做好绝缘处理；将测温探头靠近样品外表（距离≤3mm），封闭箱门通电预热，调试数据收集体系，设定每1小时自动记载1次参数，承认温度、电压、电流记载正常无误差。
发动高温老化实验箱，按预设速率升温，全程监测气温改变，待箱内温度到达设定值并安稳（动摇≤±2℃）后，开端计时进入恒温老化阶段。实验期间，每距离一段时刻（如24小时）记载一次温度、电应力及元器件要害电气参数（电阻、电容、漏电流等），同步调查设备正常运转状况，若呈现温度反常、参数骤变等状况，及时停机排查原因并记载。
